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秋山 浩一
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ソフトウェアテスト技法ドリル: テスト設計の考え方と実際 単行本 – 2010/10/1

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  1. 本の長さ
    196ページ
  2. 言語
    日本語
  3. 出版社
    日科技連出版社
  4. 発売日
    2010/10/1
  5. 寸法
    15 x 1.2 x 21 cm
  6. ISBN-10
    4817193603
  7. ISBN-13
    978-4817193605
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登録情報

  • 出版社 ‏ : ‎ 日科技連出版社 (2010/10/1)
  • 発売日 ‏ : ‎ 2010/10/1
  • 言語 ‏ : ‎ 日本語
  • 単行本 ‏ : ‎ 196ページ
  • ISBN-10 ‏ : ‎ 4817193603
  • ISBN-13 ‏ : ‎ 978-4817193605
  • 寸法 ‏ : ‎ 15 x 1.2 x 21 cm
  • カスタマーレビュー:
    5つ星のうち4.5 14

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上位レビュー、対象国： 日本

せいうち
5つ星のうち5.0 勇気を与えられた一冊です
2018年9月30日に日本でレビュー済み
Amazonで購入
秋山博士との出会いに感謝しております。
品質事故からの具体的な回避策を教えられた一冊です。同時に周辺のレベルの低さを考えさせられる事と、啓蒙の使命感を感じている次第です。
役に立った
 レポート
WhiteFalcon
5つ星のうち5.0 数あるテスト技法がきれいに整理されている
2013年11月24日に日本でレビュー済み
Amazonで購入
ソフトウェア開発を職業として始めたときから、たびたび同僚からPICTやHAYST法で試験工数を減らせないのか相談、レビュー指摘されることがありました。
ネットで簡単に手に入る情報ではよさそうだとは思えるけれど…結局導入には至りませんでした。そのなぜかがこの本で理解できました。

本書は数あるテスト技法を点、線、面、立体、時間、多次元という次元で分けて丁寧に説明してくれます。そして、PICTやHAYST法が立体に位置付けられていることが説明されます。ここで線や面に位置付けられたテストを、立体のHAYST法で解決出来るわけがないことがわかりました。
著者の秋山さんも非常に丁寧な文書を書いていて、技法やツールの具体的な使い方、注意点まで懇切丁寧に教えてくれます。開発者、パイオニアへの尊敬の念もあふれるように感じられます。そして非常にわかりやすく読みやすい！
買って満足しました。
7人のお客様がこれが役に立ったと考えています
役に立った
 レポート
kaizen
5つ星のうち5.0 TEF東海の勉強会
2012年9月16日に日本でレビュー済み
本書を使ったTEF東海の勉強会に参加しました。

スイッチの話で、行列の掛算をすると分かることについての記載がありました。

状態方程式についての説明があると分かり易かったかもしれません。

入力行列×状態行列＝出力行列

ということを理解していると、状態試験がうまくいくかもしれません。

SPIN, SMV, Uppaalなどを使う話もあるといいかも。
3人のお客様がこれが役に立ったと考えています
役に立った
 レポート
softest
5つ星のうち5.0 いかにしてテスト技法を扱うか
2010年9月30日に日本でレビュー済み
テスト技法についての書籍は数多くあるが、この本は技法の前に意識すべきノウハウも詰まっている。テストをするときに無意識に使っていた技法をあらためて学びたい方、技法を学んだがなかなか実践できていない方、より効果的な技法を使いたい方、いろいろなレベル、そしてテストエンジニアにもプログラマーにとっても有意義な内容だと思います。
第1章はテストという活動に対してポリアの「いかにして問題を解くか」のエッセンスが調合されていて、とてもためになる内容です。
第3章、第4章は少し難しい内容でもありますが、ツールの紹介があったり、今まで書籍で解説されることが少なかったCFD法の解説・使い方も載せられています。
14人のお客様がこれが役に立ったと考えています
役に立った
 レポート
KKK
5つ星のうち5.0 点から多次元へ
2021年6月3日に日本でレビュー済み
Amazonで購入
テスト技法の勉強のため購入。
章を進めるごとに、点→線→面→立体→といった様に徐々に考える次元が増えていきます。
普通に読んでいても面白い内容でしたし、発見が多く読み進めるうちにテスト技法に必要な注意力なんかがが付いていくのが実感できます。
1人のお客様がこれが役に立ったと考えています
役に立った
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